霍尔效应测试系统

产品信息

厂家: 厦门盈德兴磁电科技有限公司

型号: DX-Hall-200

价格: 面议

地址: 厦门湖里悦华路34号联发10厂405

联系方式

电话: + 86 0592 5237772

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产品详情

霍尔效应测试系统产品简介

DX-Hall-200霍尔效应测试系统是集霍尔效应、磁阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试磁场系统。根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体, 配备灵巧的测量样品杆,加上全自动化的专用测试软件,能让用户快速方便地进行样品测试,并获得准确可靠的数据。此外、系统还有多种低件,并可以根据用户现有的仪表和对软件的特殊要求进行特殊改造, 是广大科研工作者对样品进行电输运性质研究的有力工具。

霍尔效应测试系统主要参数

物理学参数 载流子浓度(Carrier Density) 103cm-3 ~ 1023cm-3
迁移率(Mobility) 0.1cm2/volt*sec ~108cm2/volt*sec
电阻率范围(Resistivity) 10-7 Ohm*cm~1010Ohm*cm
霍尔电压(Hall voltage) 10nV ~ 200V
霍尔系数 ±10-5 ~ 1027cm-3 /C
可测试材料类型 半导体材料 SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP,AlGaAs,

HgCdTe 和铁氧体材料等

低阻抗材料 石墨烯、金属、透明氧化物、

弱磁性半导体材料、TMR 材料等

高阻抗材料 半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等
材料导电粒子 材料的 P 型与 N 型测试
磁场环境 磁铁类型 磁场可变电磁铁
磁场大小 2000mT(极头间距为:10mm)

1500mT(极头间距为:20mm)

1000mT(极头间距为:30mm)

800mT(极头间距为:40mm)

600mT(极头间距为:50mm)

霍尔效应测试磁场 霍尔效应中极头间距为 30mm,此时磁场最大为1000mT
均匀区 1%
最小分辨率 0.1Gs
可选磁环境 可根据客户需求定制相关磁性大小的电磁铁
电学参数 电流源 ±0.1nA-±1000mA
电流源分辨率 0.01nA
测量电压 ±10nV~±200V
温度环境                            80K ~ 500K
控温精度 0.1K
其他配件

 

 

遮光性 外部安装遮光部件,使得测试材料更加稳定
样品尺寸 10mm*10mm(标准)
16mm*16mm(最大)
箱式机柜 600*600*1000mm
 

测试样片

提供中国科学院半导体所霍尔效应标准测试样片及数据:1 套

(硅、锗、砷化镓、锑化铟)

制作欧姆接触 电烙铁、铟片、焊锡、漆包线等

 

 

DX-Hall-200 霍尔效应测试系统是集霍尔效应、磁阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统全面地考虑了仪表配置、电路接线(包括室温和低温的接线)等用户经常忽略的问题,选取了美国Keithley的电测量仪表,磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体, 配备灵巧的测量样品杆,加上全自动化的专用测试软件,能让用户快速方便地进行样品测试,并获得准确可靠的数据。 此外、系统还有多种低温选件,并可以根据用户现有的仪表和对软件的特殊要求进行特殊改造, 是广大科研工作者对样品进行电输运性质研究的有力工具。

霍尔效应测试系统主要配置

U.S.Keithley 设备

系统

(电阻范围)

电源 电压表 电流表 主机 矩阵卡片 电磁铁 通讯接口
2400 6220 2700 2182A 6485 7001 7709 7012 7152 6514 488B
标准

(10mΩ-10MΩ)

1 1 1 1
高灵敏度

(0.1mΩ-10MΩ)

1 1 1 1 1
高电压和阻抗

(0.1mΩ-100GΩ)

1 1 1 1 2 2 1

霍尔效应测试系统主要部分

磁场范围 磁铁 水冷设备 磁场测量装置 电源 软件
0-1T@10mm DX-100 不带 DX-160 高斯计 精度:0.2% DX-2030 1KW 全自动数据处理和绘图
0-2.4T@10mm DX-130 不带 DX-180高斯计 精度:0.05% DX-10030 3KW 全自动数据处理和绘图
0-2.6T@10mm DX-178 8KW水冷 DX-180高斯计 精度:0.05% DX-10050, 5KW 全自动数据处理和绘图

 

霍尔效应测试系统低温部分(选配)

 

温度范围 冷却 温度控制设备
80-500K 液态氮恒温器 TC202
4-500K 循环冷水机 TC202
4-325K 低温系统 TC202
45-325K CTI小型冷水机 TC202

 

霍尔效应测试系统主要特点

  1. 使用插样卡片,方便安装。
  2. 一种标准配置可以同时测量两个样品,通过添加可选设备可以同时测量4个样品;
  3. 电阻测量范围:0.1mΩ-100GΩ(高电压和阻抗系统)
  4. 不同的电流和磁场,不同的测试系统和电阻测量
  5. 测试和计算过程由软件自动完成,同时马上提供数据和曲线,节省时间。
  6. 系统长时间提供高稳定磁场。零磁场可以平滑。
  7. 电磁铁电源内置精密高斯计,现场控制速度快
  8. 选择低温器件,霍尔效应和电阻测量可以在不同温度下进行

霍尔效应测试系统可测量材料

  1. 半导体材料:SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等
  2. 低阻抗材料:石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等
  3. 高阻抗材料:半绝缘的GaAs, GaN, CdTe等

霍尔效应测试系统主要功能

  1. 测量霍尔效应,电阻,I-V曲线和R-T曲线
  2. 可测参数:霍尔效应 – 薄层电阻,电阻率,霍尔系数,导电类型,霍尔迁移率,载流子浓度;
  3. 磁阻效应:R, △R, (△R/R)%, (△R/R0)%
  4. I-V曲线: 不同温度和磁场的I-V曲线
  5. R-T曲线:固定磁场,不同温度下,电阻变化曲线
  6. R-H曲线:固定温度,不同磁场下,电阻变化曲线

霍尔效应测试系统主要技术参数

样品尺寸

  1. 小尺寸样品卡:12*12mm2
  2. 大尺寸样品卡:50*50mm2
  3. 探头样品卡:1*1mm2-20*30mm2

样品测试方法

  1. 霍尔效应样品:Si, GaAs等
  2. 电阻和I-V样品:4线或6线法

磁场

型号 DX-100 DX-130 DX-180
极面直径 60mm(选配) 100mm(选配) 120mm(选配)
气隙 室温10mm 液氮恒温器 24mm
选配
ARS 冷水机
40mm
选配
室温10mm 液氮恒温器 24mm
选配
ARS 冷水机
40mm
选配
室温10mm 液氮恒温器 24mm
选配
ARS 冷水机
40mm
选配
最大磁场 1.5T 0.9T 0.6T 2.5T 1.5T 1.0T 2.7T 2.0T 1.4T
均匀度 ±1% ±1% ±1%

温度(选配)

标准液氮恒温器:80k-325k

高温液氮恒温器:80-500k

无液氮系统:1.6k-325k

液氮恒温器选项:80-325k

循环冷水机选项:

标准4K冷水机系统:4k-325k

高温4k冷水机:4k-700k

标准10k冷水机系统:10k-325k

高温10k冷水机:10k-800k

微型冷水机系统:45k-325k

电器性能

在以下典型测试条件下:

采样功耗小于1mV,在此条件下,使励磁达到系统配置中推荐的最大电流和电压;

采样温度:295k

样品座不漏电流

每个测试引线电阻25Ω

测量电阻率(V_out / V_in)的电压使用效率应为0.1。

样品形状校正因数:1

磁场和样品厚度测试不确定度在1%之内。

磁场/样品厚度为1T/mm, 注意所测最大的载流子浓度大约比例为此值。所以,更强的磁场和更厚的样品不能提高测试范围。

系统 标准
电流源 ±100pA~±0.1A
电压源 ±0.1uV~±3V
电流 ±100pA~±100mA (最小分辨率 100pA)
电压 ±0.1uV~±3V (最小分辨率 0.1uV)
最大电阻 10MΩ
最小电阻(VDP) 40mΩ
最小电阻(HB) 10mΩ
最大载流子浓度有 1.0E+18
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振动样品磁强计

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